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設備名称 | 蛍光X線分析装置 | |
メーカ・ 型式 |
㈱日立ハイテクサイエンス 製 SEA6000VX |
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用途 | ・各種めっき膜、表面処理膜等の品質評価ができます ・元素組成分析と半定量分析を行うことができます ・元素マッピング分析可能です。 |
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仕様 | ・測定元素:11(Na)~92(U) ・試料形態:固体・粉体 ・X線管球:空冷式、W ・検出器:液体窒素不要半導体式 ・照射方式:上面垂直照射方式 ・薄膜検量線法の膜厚測定可能 ・最大寸法:200(X)×200(Y)×150(Z)mm ,最大重量5㎏ ・ビーム径:□0.2mm、□0.5mm、□1.2mm、□3mm 電動切換え ・焦点距離:5mm、15m、m25mm ・Heパージ有 |
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利用料金 | ¥1,840 円/時間(県外居住者の場合、5割加算となります。) | 外観 |
導入年月 | 2014/01 | |
設置場所 | 県央技術支援センター |