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設備機器情報


設備名称 蛍光X線分析装置
メーカ・
型式
㈱日立ハイテクサイエンス 製
SEA6000VX
用途 ・各種めっき膜、表面処理膜等の品質評価ができます
・元素組成分析と半定量分析を行うことができます
・元素マッピング分析可能です。
仕様 ・測定元素:11(Na)~92(U)
・試料形態:固体・粉体
・X線管球:空冷式、W
・検出器:液体窒素不要半導体式
・照射方式:上面垂直照射方式
・薄膜検量線法の膜厚測定可能
・最大寸法:200(X)×200(Y)×150(Z)mm ,最大重量5㎏
・ビーム径:□0.2mm、□0.5mm、□1.2mm、□3mm 電動切換え
・焦点距離:5mm、15m、m25mm
・Heパージ有
利用料金 ¥1,930 円/時間(県外居住者の場合、5割加算となります。)
外観
導入年月 2014/01
設置場所 県央技術支援センター