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設備名称 | 蛍光X線分析装置 | |
メーカ・ 型式 |
理学電機工業㈱製 波長分散型蛍光X線分析装置 ZSX PrimusⅡ |
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用途 | 試料にX線を照射し、発生する特性X線を分析することで、含有元素の検出と半定量を行います。 ・元素組成および不純物の半定量分析や元素の定量分析(要標準試料)ができます。鋼、セラミックス、鉱物、ガラス、ゴム、プラスチック、紙などに用いられます。 |
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仕様 | 分光系 :波長分散方式 X線照射方式:上面照射型 X線管球 :4kW,Rhターゲット,エンドウィンド型 出力範囲 :60kV,150mA 測定元素範囲:B~U 試料測定径 :0.5,1,10,20,30,35mmφ |
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利用料金 | ¥1,840 円/時間(県外居住者の場合、5割加算となります。) | 外観 |
導入年月 | 2006/11 | |
設置場所 | 下越技術支援センター |