蛍光Ｘ線分析装置｜新潟県工業技術総合研究所

設備名称	顕微赤外分光光度計
メーカ・型式	日本分光㈱製 FT/IR-4200
用途	有機化合物に赤外線をあてると、官能基や構造に応じて固有の吸収スペクトルが得られます。そのスペクトルから物質の同定を行う装置です。・樹脂材料の同定や各種異物（例：製品に混入した異物や付着した油分など）の分析に利用されます。・[特殊]無機物（例：酸化物、樹脂中のフィラー等）の分析にも利用できます。
仕様	測定周波数範囲: 350～7800cm-1 最高分解能: 0.5cm-1 S/N比: 30000:1 ビームスプリッタ: Ge/KBr 光源: 高輝度セラミックス光源干渉計: マイケルソン干渉計その他付属品: 赤外顕微鏡(IRT-3000)、１回反射ATR(ATR PRO410-S)、１回反射ATR用プリズム(PKS-ZNSE,PKS-GE)、顕微ATR用プリズム(ATR-30-Z,ATR-30-G)、錠剤成型器一式、サドラー社データベース（接着剤及びシール剤、繊維、モノマー、ポリマー界面活性剤、脂肪・ワックス及び誘導体、ゴム、潤滑剤、無機化合物、ミネラル及び粘土、工業化学品・純粋有機化合物）
利用料金	¥1,840 円／時間（県外居住者の場合、５割加算となります。）	外観
導入年月	2007/03
設置場所	中越技術支援センター

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