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設備機器情報


設備名称 エネルギー分散型X線分析装置
メーカ・
型式
日本電子製
JED-2300
用途 走査型電子顕微鏡(SEM)に付属させ、観察しながらその領域に含まれる元素の種類を調べる分析装置です。走査型電子顕微鏡(SEM)からの電子ビームが物体を走査した際に発生する特性X線を検出し、X線から得られるエネルギー分布により、元素を特定します。
 元素の定性分析や定量分析が可能です。また、専用ソフトにより、電子顕微鏡写真の上に元素分布を重ね表示することができ、異物解析や組成分析に最適な装置です。
仕様 分析元素:Be~U、液体チッソレス検出器、分解能:129eV、定性分析・定量分析・マッピング機能
利用料金 ¥1,560 円/時間(県外居住者の場合、5割加算となります。)
外観
導入年月 2012/01
設置場所 上越技術支援センター