蛍光Ｘ線分析装置｜新潟県工業技術総合研究所

設備名称	電磁式膜厚計
メーカ・型式	㈱サンコウ電子研究所製 SWT-9100
用途	電磁式・渦電流式両用プローブ付き・電磁式　:鉄等の磁性金属上の非磁性膜（塗装など）の膜厚測定・渦電流式：アルミ等の非磁性金属上の絶縁皮膜（アルマイト、塗装など）の膜厚測定（H28/4現在、標準試料は樹脂フィルム（50、298、1000μm））
仕様	専用プローブ FN-325 を使用の場合測定範囲　鉄素地：0～3.00ｍｍ　非鉄金属素地：0～2.50ｍｍ測定精度　0〜100μm：±1μm以内　101〜3.00mm：±2％以内（鉄素地）　101〜2.50mm：±2％以内（非鉄素地）
利用料金	¥1,860 円／時間（県外居住者の場合、５割加算となります。）	外観
導入年月	2015/02
設置場所	県央技術支援センター

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