蛍光Ｘ線分析装置｜新潟県工業技術総合研究所

設備名称	分光光度計
メーカ・型式	日本分光(株)製分光光度計V-670
用途	・近紫外から近赤外までの光の反射率・透過率を測定する装置です。150mmΦの積分球による全光反射・透過率と，絶対反射率測定ユニットによる変角反射・透過率の測定が可能です。
仕様	波長範囲：190nm～2500nm(光度計単体) 積分球：150mmΦ 絶対反射率測定ユニット：入射角5°～60°
利用料金	¥1,760 円／時間（県外居住者の場合、５割加算となります。）	外観
導入年月	2012/01
設置場所	下越技術支援センター

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