Topページ > 平成28年度 第1回分析技術講習会基礎コースのご案内 |
分析は、製品開発や品質管理等において重要な手段となっています。その分析の原理や測定技術を理解することは、目的を達成するために効果的です。 そこで、この度弊センターでは、利用頻度の高い蛍光X線分析と赤外分光分析について講習会を企画しました。これら2つの講習会は、個別開催としており、ご希望のコースを選べるようにしました。 これから講習対象の分析装置利用をご検討されている方や、分析装置の操作の体験を希望される技術者の方に有用な内容となっています。ふるってご参加くださいますよう、ご案内申し上げます。 |
日時 | 平成 28 年 9月 2 日(金)9:00 ~ 12:00(蛍光X線分析) 13:00 ~ 16:00(赤外分光分析) 【定員となりましたので募集を終了しました】 |
会場 | 新潟県工業技術総合研究所 3階 3356室 (新潟市中央区鐙西1-11-1) |
参加費 | 無料 |
申込方法 | 参加申込書にご記入いただき、8月29日(月)までにFAXまたはメールでお申し込みください。 |
プログラム | 〇分析基礎コース(蛍光X線分析) 9:00~9:05 受付 9:05~9:10 あいさつ 9:10~9:50 座学(下越技術支援センター 主任研究員 渡邉 亮) 元素の組成分析を行うのに有効な蛍光X線分析の原理および応用例について解説します。 9:50~11:50 分析実習 11:50~12:00 質疑応答 〇分析基礎コース(赤外分光分析) 13:00~13:05 受付 13:05~13:10 あいさつ 13:10~13:50 座学(下越技術支援センター 主任研究員 山下 亮) 異物の同定を行うのに有効な赤外分光分析の原理および応用例について解説します。 13:50~15:50 分析実習 15:50~16:00 質疑応答 |
問合せ先 | 新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター 担当:諸橋、山下、渡邉 TEL 025-544-6823 FAX 025-544-3762 E-mail kagaku@iri.pref.niigata.jp |
案内チラシ兼申込書(PDF形式 146 キロバイト) |