| 設備名称 |
エネルギー分散型Ｘ線分析装置 |
| メーカ・型式 |
日本電子株式会社・ＪＥＤ−２３００ |
| 用途 |
走査型電子顕微鏡(SEM)に付属させ、観察しながらその領域に含まれる元素の種類を調べる分析装置です。
走査型電子顕微鏡(SEM)からの電子ビームが物体を走査した際に発生する特性Ｘ線を検出し、Ｘ線から得られるエネルギー分布により、元素を特定します。
元素の定性分析や定量分析が可能です。また、専用ソフトにより、電子顕微鏡写真の上に元素分布を重ね表示することができ、異物解析や組成分析に最適な装置です。 |
| 仕様 |
『分析元素』Be〜U
『検出器』
液体窒素レス
『分解能』129eV
『定性分析』
残渣表示機能
『定量分析』ZAF法
『マッピング機能』
あり
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外観 |
| 利用料金 |
【依頼試験】
走査型電子顕微鏡観察
分析装置を使用する場合
9,440円/試料・3視野まで
【機器貸付】
1,920円/時間 |
| 設置年度 |
平成23年度
（補助事業概要） |
| 設置場所 |
上越技術支援センター |
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