| □内 容 | |
| １:日時 | 平成25年3月8日(金) １３：００〜１７：００ |
| ２:会場 | 新潟県工業技術総合研究所 301会議室 (新潟市中央区鐙西1-11-1) |
| ３:内容 | 13:00〜13:05 受付 13:05〜13:10 あいさつ 13:10〜16:00 分析技術セミナー 1. X線光電子分光による表面分析(13:10-14:10) 下越技術支援センター 専門研究員 諸橋春夫 Ｘ線光電子分光分析装置は、各種材料・製品の最表面における元素、化学結合などを分析・解析する表面分析装置です。本セミナーでは、Ｘ線光電子分析の概要、原理、分析事例を説明し、昨年度当センターに導入された装置についての特徴についてもお話しします。 2. イオンクロマトグラフィーの特徴と分析事例(14:10-15:00) 下越技術支援センター 研究員 渡辺 亮 昨年度導入した当該装置に関する特徴及びプラズマ発光分光分析装置等との比較分析事例について紹介します。 休憩（15:00-15:10） 3. 赤外イメージングによる化学構造分布解析（15:10-16:00） 下越技術支援センター 主任研究員 岡田英樹 昨年度導入された赤外イメージングは化学構造としての分布が測定できる装置です。本分析法の特徴と応用例について紹介します。 16:00〜16:30 装置見学 16:30〜17:00 質疑応答 |
| ４:定員 | ３０名 |
| 5:受講料 | 無 料 |
| □申込方法 | |
| 下記参加申込書に必要事項をご記入の上、3月7日までにFAXかメールでお申し込みください。 新潟県工業技術総合研究所 下越技術支援センター 永井 宛 〒９５０−０９１５ 新潟市中央区鐙西1-11-1 TEL：０２５−２４４−９１６８ FAX：０２５−２４１−５０１８ E-mail： nnagai@iri.pref.niigata.jp 参加申込書 |
〒950-0915
新潟市中央区鐙西1-11-1
TEL 025-247-1301
FAX 025-244-9171