新潟県工業技術総合研究所は、工業系の技術支援機関です。
| Topページ > 経済産業省平成24年度補正予算「地域新産業創出基盤強化事業」 新しい設備が導入されましたので紹介します。 |
| 経済産業省平成24年度補正予算「地域新産業創出基盤強化事業」により、地域企業の研究利用、国際規格への対応、安全性の確認等のための評価試験などに有用な４設備が新規に導入されました。 これらの設備は当研究所の依頼試験、器機貸付等の事業でご利用いただけます。 なお、県外企業の方は減免手続きすることで県内企業と同一料金でご利用いただけます。 皆様のご利用をお待ちしています。 |
| 設備名・メーカー型式 【設置場所】 |
器機の紹介・主な仕様 |
①デジタルマイクロスコープ オリンパス（株）製 DSX500 【下越技術支援センター】 |
金属組織観察と同時に二次元での寸法測定ができるデジタルマイクロスコープです。明視野、暗視野 微分干渉画像の撮影が可能で、多少凹凸が有っても全体の焦点の合った画像が取り込め（３Dフォーカス機能）、３Dプロファイルの各種解析ができます。 ・観察倍率：150～7,500倍（モニター倍率） ・電動XYステージ：100mm×100mm ・試料最大重量：3kg ・３Ｄプロファイル解析：段差、面積、体積測定 |
②薄膜硬度計 （株）フィッシャー・ インストルメンツ製 HM500 【下越技術支援センター】 |
圧子に連続的に荷重を増加・減少させ、荷重と押し込み深さを同時に計測する試験（ナノインデンテーション試験）ができる装置です。材料、皮膜等の表面硬さ試験や物性解析に利用できます。 ・押し込み力範囲：0.005mN～500mN ・最大押し込み深さ：～150µm ・HM（マルテンス硬さ値）、EIT（押し込みヤング率）、HV（ビッカース硬さ値）等 |
③蛍光X線分析装置 （株）日立ハイテク サイエンス製 SEA6000VX 【県央技術支援センター】 |
試料にX線を照射し発生する特性X線を分析することで、元素組成分析と半定量分析を行う装置です。めっき膜等の膜厚測定も可能です。 ・測定元素：11(Na)～92(U) ・試料形態：固体・粉体・液体 ・Ｘ線管球：空冷式、W ・検出器：液体窒素不要半導体式 ・薄膜検量線法の膜厚測定可能 |
④レーザー顕微鏡 オリンパス（株）製 OLS4100-SAT 【県央技術支援センター】 |
通常の光学顕微鏡では不可能な焦点深度の深い表面観察や微細形状測定を非接触で迅速に行うための装置です。凹凸面でも視野全体に焦点の合った観察や３Ｄ観察、断面の輪郭線作成、寸法や表面粗さ評価等に加え 微分干渉観察も併用できます。 ・観察光源：405nmクラス2半導体レーザー 白色ＬＥＤ（カラー観察用） ・表示倍率：108倍～17,280倍（モニタ上） ・視野範囲：2,560μm～16μm ・粗さ指標：ISO25178等に対応 |
| 【お問い合わせ先】 新潟県工業技術総合研究所 企画管理室 小林、古畑、松本 宛 TEL：025 - 247 - 1301 FAX：025 - 244 - 9171 E-mail：  |