組込みシステム開発支援研究室


総合案内

対応可能な技術を紹介します。
下記のマップに記載されていない技術についてはお問い合わせください。


基本技術案内
組込みシステム設計指導 PLC  ・ ハードウェアに関する技術指導
 ・ ソフトウェアに関する技術指導など
PC
マイコン
FPGA
DSPなど
回路設計指導 アナログ回路  ・ 演算増幅器を用いた増幅器、演算器、比較器、各種フィルタなど
 ・ 電源回路
 ・ アース回路など
デジタル回路  ・ マイコンの周辺回路
 ・ 標準ロジックICの組み合わせ回路(74LSxx,74HCxxなど)
 ・ インターフェース回路など
プログラム技術指導 BASIC  ・ ※言語の基礎知識はNICOや民間の研修をご活用願います
 ・ ※プログラムの技術指導のみで開発はしません
C言語
アセンブラ
OSに関する技術指導 Linux  ・ ※OSの基礎知識はNICOや民間の研修をご活用願います
 ・ ※プログラムの技術指導のみで開発はしません
TRON
自作
処理理論に関する技術指導 制御処理理論  ・ ※理論の指導のみでプログラム開発はしません
信号処理理論
センサに関する技術指導 既存のセンサ  ・ 電気・磁気・温度・音・光などのセンサを用いた開発など
新規のセンサ  ・ 小型のPt100温度センサの開発など
通信に関する技術指導 有線  ・ SPI、I2C、CAN、RS-232C、RS485、USBなどの近距離通信
 ・ アナログ電話回線、ISDN、ADSL、光通信などの遠距離通信
 ・ 有線LANなど
無線  ・ BlueTooth、IrDAなどの近距離通信
 ・ 地上波デジタル放送などの受信設備
 ・ 無線LANなど

応用技術案内
電力に関する技術指導 強電  ・ 太陽光発電所や風力発電所などの遠隔制御装置など
弱電  ・ 電気自動車のPWM制御
 ・ スマートメータなど
工場に関する技術指導 プラント開発  ・ 水温・pH・液位計測、バルブやゲートの遠隔制御など
ライン開発  ・ 生産設備や生産管理システムの開発など
 
測定及び試験技術案内
試験/測定項目 詳細
電気的測定 電圧、電流、抵抗、電力の測定
周波数特性の測定 インピーダンス、誘電率、シールド特性、磁束密度
EMC測定/試験 EMI測定 放射電界強度、伝導妨害波(雑音端子電圧)、雑音電力、
電源高調波電力、フリッカ
イミュニティ測定/耐ノイズ試験 静電気、放射電界、ファーストトランジェントバースト、
サージ、無線周波数連続伝導、電力周波数電界、
電圧ディップ、短時間停電、インパルスノイズ
電気安全性試験 絶縁耐圧試験、漏洩電流試験、
保護導通試験
光学的測定 紫外可視分光測定
測色、色差測定
光沢度、曇度の測定
照度の測定
環境試験/測定 温湿度試験 高温、低温、耐湿、温度サイクル
熱衝撃試験
振動/衝撃試験
加速寿命試験 プレッシャクッカ
騒音の測定
熱的測定 温度測定

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新潟県工業技術総合研究所 アクセスマップ お問い合わせフォーム E-mail:info@iri.pref.niigata.jp


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